晶圆测试

● 依据客户产品特性，为客户选择最适宜的测试平台、探针台和探针卡，搭建最优的测试环境，为客户提供高效高质、Multi-site并行的晶圆测试。

● 拥有包括V93000/J750HD/IP750HD/Chroma 3380 Serial/S100/EVA100/D10/ STS8200等多种测试平台。

● 拥有UF3000EXE/P12-XL/UF300/UF200等8/12寸探针台，Camtek AOI设备，可满足4/5/6/8/12英寸晶圆的三温测试（-40℃—150℃）。

● 拥有完善的PLM/MES/MAC(测试自动控制)/MDA（测试数据分析）等生产管控系统，保证晶圆测试质量。

成品测试

● 拥有包括V93000/J750HD/Chroma 3380 Serial/S100/EVA100/D10/STS T4 /Litepoint/STS8200等各类先进的测试设备，测试能力覆盖数字、模拟、数模混合、射频、存储、功率器件和超大规模SOC等各类集成电路。

● 自主开发STH系列基板测试Handler，拥有NS-8080SH/HT-1028C/C6800T-G/ C6160H-G等FT Handler，可满足LGA/QFN/LQFP/SIP/SOP/SSOP等各类封装产品的三温测试（-40℃～150℃）、Tube in/out、测编一体等不同测试需求。

● 拥有完善的PLM/MES/MAC(测试自动控制)/MDA（测试数据分析），对测试质量、效率及稳定性的管理均得到中国大陆及台湾一线客户认可。

测试开发

● 拥有多年产品经验及充足的工程资源，可提供包括方案设计、测试程序开发、硬件(探针卡、LB)设计和硬件维修的全方位服务。

● 可开发平台包括：V93000/J750HD/Chroma 33xx serial/S100/EVA100/ STS8200等。

  软硬件开发、验证、导入及量产的测试工程专业化分工一改传统测试厂的保证对客户工程支持的鲁棒性。